В последнее время multifunctional scanning probe microscope сканирующая ионно-кондуктивная микроскопия (SICM) зарекомендовала себя как адаптивное бесконтактное средство визуализации и может быть реализована для ряда различных приложений. SICM был полезен в исследованиях, посвященных топографии поверхности переноса ионов через пористые материалы, как искусственные, так и биологические мембраны, суспендированные искусственные черные липидные мембраны, а также динамические характеристики живых клеток.

SICM может также использоваться в сочетании с другими методами, такими как сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (SNOM) и фиксация пластыря, что открывает его для использования в ряде многообещающих новых приложений. Однако существенным недостатком использования SICM является то, что он не может определять конкретные химические свойства, что делает его химически слепым и нечувствительным к электрохимическим характеристикам.